
alt=NANOVEA PS50 Non-Contact Optical Profilometer|thumb|322x322px|Non-Contact Optical Profilometer thumb|250px|A contact profilometer at Laboratory for analysis and architecture of systems|LAAS technological facility in Toulouse, France.
Profilometr – przyrząd pomiarowy służący do pomiaru parametrów chropowatości i falistości powierzchni. Na podstawie topografii powierzchni obliczane są wymiary krytyczne takie jak krzywizna i płaskość. Pod względem historycznym pojęcia "profilometr" używano do określenia urządzenia podobnego do fonografu, który mierzy topografię podczas przemieszczania się powierzchni badanej względem igły profilometru stykowego. Jednak pojęcie to zmienia się wraz z pojawieniem się wielu bezkontaktowych technik profilometrycznych. W zależności od metody pomiaru rozróżniamy: * profilometry kontaktowe: * profilometr stykowy * mikroskopia sił atomowych (ATM) * * profilometry bezkontaktowe optyczne * oparte na interferometrii: * cyfrowa mikroskopia holograficzna * interferometria światła białego * różnicowa mikroskopia kontrastowo-interferencyjna (mikroskopia Nomarskiego) * oparte na metodzie rzutowania: * profilometria Fouriera, * * metody odbicia wzorcowego Współczesne profilometry mierzą nie tylko statyczną topografię, ale również dynamiczne zmiany na powierzchni w czasie rzeczywistym.
Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA
Discovered by embedding cosine similarity (sentence-transformers MiniLM, 384-dim).