metodo di van der Pauw

Il metodo di van der Pauw è una tecnica usata per la misura della resistività e del di un campione. La sua utilità è dovuta alla possibilità di misurare queste proprietà in campioni di forma arbitraria, posto che il campione sia approssimativamente bidimensionale (cioè se il suo spessore è molto minore della larghezza) e che gli elettrodi siano posti sul perimetro. Le proprietà che possono essere calcolate sono: * la resistività di superficie (o resistenza di strato) del materiale; * il tipo di drogaggio, nel caso di semiconduttori (in base alla presenza di portatori maggioritari con segno positivo o negativo se ne deriva se il semiconduttore è drogato di tipo p o n); * la densità di portatori per unità di superficie dei portatori di carica maggioritari (detta anche dose di portatori, generalmente espressa in atomi cm-2); da questa misura si calcola la densità di carica e il livello di drogaggio; * la mobilità dei portatori maggioritari. Il metodo fu proposto per la prima volta da nel 1958.